【鋰電世界】   掃描電鏡最常用于材料的形貌分析，可以用來研究合成條件對材料形貌的影響，結合其他測試方法可以確定合成路線，或對材料的性能進行解釋。給出深圳市天驕科技開發有限公司在不同的合成條件下生產的NCA樣品，除了可以觀察形貌還可以看出一次顆粒的大小。由可見，合成條件對一次顆粒的大小有較大影響。

    為了提高圖像分辨率，必須設法抑制那些造成背景的二次電子SE2，在常規掃描電鏡中只能減小加速電壓，使作用區變小，但電子束亮度會明顯下降，圖像襯度和信噪比變差。給出深圳市天驕科技開發有限公司生產的NCM811前驅體樣品在不同加速電壓下的掃描電鏡圖。由可以看出在SkV加速電壓下樣品的分辨率較好。
   
    但是在場發射掃描電鏡中，物鏡內安裝了環形二次電子探測器，分辨率顯著改善。